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同分异构体混合物定性和定量分析光电离质谱装置和方法

摘要

本发明提供了同分异构体混合物定性和定量分析光电离质谱装置和方法。光电离质谱装置包括从上至下依次设置的上端密闭下端开口的电离源腔体、上下两端开口的离子传输区腔体和上端开口下端密闭的质量分析器腔体;电离源腔体和离子传输区腔体之间设置有平板状电离源出口电极。所述同分异构体混合物定性和定量分析方法基于同分异构体不同组分在不同解离电场下碎片化程度存在差异的特性,在光电离质谱中引入了碰撞能量可控的碰撞诱导解离,分别获取不同解离电场强度下同分异构体各组分及其混合物的特征谱图;根据同分异构体各组分的特征离子种类和相对强度,建立分析算法,可实现同分异构体混合物中各组分快速、准确的定性和定量分析。

著录项

  • 公开/公告号CN109841484B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院大连化学物理研究所;

    申请/专利号CN201711204821.7

  • 发明设计人 花磊;王艳;蒋吉春;李海洋;

    申请日2017-11-27

  • 分类号

  • 代理机构沈阳科苑专利商标代理有限公司;

  • 代理人马驰

  • 地址 116023 辽宁省大连市中山路457号

  • 入库时间 2022-08-23 11:02:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-23

    授权

    授权

  • 2019-06-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J49/04 申请日:20171127

    实质审查的生效

  • 2019-06-04

    公开

    公开

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