首页> 中国专利> 氧化硅薄膜的选择性侧向生长

氧化硅薄膜的选择性侧向生长

摘要

本文揭示的实施例通常涉及形成氧化硅膜的方法。此方法可包括在具有末端羟基的基板的表面上执行硅烷化。接着使用等离子体与H2O浸泡来再生成基板的表面上的羟基以执行额外的硅烷化。进一步的方法包括使用路易斯酸来催化这些暴露表面,直接地使该暴露第一和第二表面非活化及在侧壁表面上沉积含硅层。多个等离子体处理可被执行以沉积具有期望厚度的层。

著录项

  • 公开/公告号CN107210196B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN201680009234.X

  • 申请日2016-01-05

  • 分类号H01L21/02(20060101);H01L21/768(20060101);H01L23/532(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人侯颖媖

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 11:02:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-19

    授权

    授权

  • 2018-02-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20160105

    实质审查的生效

  • 2017-09-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号