单固定型故障基于可测试性影响锥的测试精简方法及系统

摘要

本发明提供一种单固定型故障基于可测试性影响锥的测试精简方法及系统，从单固定型故障点集合中获取目标故障点f的ST故障集合，包括：获取所述单固定型故障点集合中故障点的影响锥；从单固定型故障点集合中提取故障点f1；若故障点f1与目标故障点f的可测试性影响锥不交叉时，ST←ST∪{f1}；遍历单固定型故障点集合中故障点，构成ST故障集合；获取待测电路的单固定型故障的测试集合，对测试集合进行动态和静态测试精简。本发明通过对电路结构分析和故障点可测试影响锥计算为基础，设计的故障模型测试向量精简方法，减少了向量生成时间，从而降低测试数据容量及测试时间，提高了单固定型数字集成电路测试效率。