面向固定型故障的测试向量生成与压缩方法研究
RESEARCH ON TEST PATTERN GENERATION FOR STUCK-AT-FAULT AND COMPRESSION ALGORITHMS
摘 要
Absrtact
目 录
第1章 绪 论
1.1 研究背景及意义
1.2 集成电路测试向量生成与压缩方法的研究现状
1.3 本文主要研究内容及组织结构
第2章 测试生成与压缩方法的基本理论
2.1 引言
2.2 固定型故障研究
2.3 测试生成方法
2.4 测试压缩方法
2.5 本章小结
第3章 基于D算法的测试生成方法研究及实现
3.1 引言
3.2 D算法相关理论知识研究
3.3 D算法在组合和时序电路中的应用
3.4 基于团划分和相容合并的生成结果优化技术
3.5 D算法的实现及验证
3.6 本章小结
第4章 测试向量压缩方法研究
4.1 引言
4.2 经典压缩方法研究
4.3 基于参考向量和纠错码的测试向量压缩算法
4.4 基于数据块相容及字典的测试向量压缩方法
4.5 本章小结
结 论
参考文献
攻读学位期间发表的学术论文
哈尔滨工业大学硕士学位论文原创性声明
哈尔滨工业大学硕士学位论文使用授权书
致 谢