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半导体器件以及形成垂直结构的方法

摘要

根据示例性实施例,本发明提供了形成具有至少两个阻挡层的垂直结构的方法。该方法包括以下操作:提供衬底;在衬底上方提供垂直结构;在垂直结构的源极、沟道、和漏极上方提供第一阻挡层;以及在垂直结构的栅极和漏极上方提供第二阻挡层。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-05

    授权

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  • 2016-02-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20141222

    实质审查的生效

  • 2016-01-27

    公开

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