逆导型IGBT的间歇寿命试验电路和方法

摘要

本发明涉及一种逆导型IGBT的间歇寿命试验电路和方法，包括控制电路、栅极电压源、集电极电压源、测试电流源和电阻，栅极电压源、测试电流源和电阻均连接控制电路，栅极电压源、测试电流源、电阻和控制电路均用于连接逆导型IGBT，集电极电压源与电阻串联连接。控制电路控制测试电流源和集电极电压源分别提供逆向测试电流和集电极电压，在进行测试时，由于逆导型IGBT集成了反向二极管，通过输入逆向测试电流，测试逆导型IGBT的集电极和发射极之间的压降并根据预设的温敏系数，得到结温的变化情况，根据结温变化情况判断器件的状态和退化情况，避免了由于正向测试时回跳现象引起的测试不准确情况，间歇寿命试验准确度高。