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半导体集成电路的测试方法和半导体集成电路

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摘要

一种用于半导体集成电路的测试方法，包括多循环测试步骤和单循环测试步骤。在多循环测试步骤中，数据读出侧触发器按照时钟启动信号来保持数据，以测试多循环路径。在单循环测试步骤中，对于多循环路径无数据俘获。

著录项

公开/公告号CN100383546C

专利类型发明授权
公开/公告日2008-04-23

原文格式PDF
申请/专利权人松下电器产业株式会社;
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申请/专利号CN200410102426.4
发明设计人市川修;
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申请日2004-12-22
分类号G01R31/3185(20060101);
代理机构11256 北京市金杜律师事务所;
代理人王茂华
地址日本大阪府
入库时间 2022-08-23 09:00:21

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2014-02-19

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/3185 授权公告日:20080423 终止日期:20121222 申请日:20041222

专利权的终止
2008-04-23

授权

授权
2005-09-14

实质审查的生效

实质审查的生效
2005-07-20

公开

公开

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