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三维扫描仪校正系统及其校正方法

摘要

本发明公开一种三维扫描仪校正系统及其校正方法,此方法可包含下列步骤:使待测的三维扫描仪的结构光模块投射结构光线于校正平面;改变三维扫描仪与校正平面的相对距离,当三维扫描仪与校正平面的相对距离为第一距离及第二距离时,分别撷取该结构光线的图像;分别分析两图像以计算结构光线于两图像的估测范围;根据两图像的估测范围及光点分别计算结构光线于两图像的估测线段方程式;以及根据三维扫描仪与校正平面的相对距离的变化及结构光线于两图像的估测线段方程式计算结构光模块与基准面的夹角。

著录项

  • 公开/公告号CN105783711B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 财团法人工业技术研究院;

    申请/专利号CN201410826224.8

  • 发明设计人 邱威尧;张俊隆;吕尚杰;江博通;

    申请日2014-12-26

  • 分类号G01B11/00(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人王珊珊

  • 地址 中国台湾新竹县

  • 入库时间 2022-08-23 10:57:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-05

    授权

    授权

  • 2016-08-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20141226

    实质审查的生效

  • 2016-08-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20141226

    实质审查的生效

  • 2016-07-20

    公开

    公开

  • 2016-07-20

    公开

    公开

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