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一种光谱共焦线扫描快速测量物体表面台阶的方法

摘要

本发明公开了一种光谱共焦线扫描快速测量物体表面台阶的方法,包括:搭建光谱共焦线扫描装置;检测标准平面反射镜,沿轴向移动标准平面反射镜位置,同时监测标准平面反射镜的坐标位置,标定出色散聚焦元件的色散聚焦范围以及光谱共焦线扫描装置的波长‑位置关系曲线;将标准平面反射镜替换为样品进行检测,并将样品表面置于色散聚焦元件的色散聚焦范围内;通过分析光谱仪返回信号的强度点扩散函数,利用质心法计算峰值坐标位置得到返回信号波长,并根据波长‑位置关系曲线,解码出样品表面的最大高度差,完成样品表面台阶的快速测量。本发明结构简单、测量速度快、精度高、适用范围广,可适用于透明或不透明台阶、沟槽、倾斜表面等精密测量。

著录项

  • 公开/公告号CN109781015B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN201910005141.5

  • 申请日2019-01-03

  • 分类号G01B11/03(20060101);G01B11/06(20060101);G01N21/84(20060101);

  • 代理机构61200 西安通大专利代理有限责任公司;

  • 代理人徐文权

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号

  • 入库时间 2022-08-23 10:57:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-28

    授权

    授权

  • 2019-06-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/03 申请日:20190103

    实质审查的生效

  • 2019-06-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/03 申请日:20190103

    实质审查的生效

  • 2019-05-21

    公开

    公开

  • 2019-05-21

    公开

    公开

  • 2019-05-21

    公开

    公开

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