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测量LTPS显示面板的TFT电性的方法

摘要

本发明提供一种测量LTPS显示面板的TFT电性的方法,其通过化学试剂同时与有机平坦层以及第二金属层中的铝反应,去除有机平坦层、第二金属层中的铝、以及第二金属层中的位于铝和有机平坦层之间的第一金属材料,仅保留第二金属层中位于远离所述有机平坦层一侧的第一金属材料,去除有机平坦层时不需要保留第二金属层中的铝,避免因第二金属层中的铝表面蚀刻不均匀导致的TFT电性测量偏差,能够准确测量LTPS显示面板的TFT电性,提升LTPS显示面板的TFT电性的测量成功率,保证LTPS显示面板产品良率。

著录项

  • 公开/公告号CN106782239B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201611230245.9

  • 发明设计人 孟林;

    申请日2016-12-27

  • 分类号

  • 代理机构深圳市德力知识产权代理事务所;

  • 代理人林才桂

  • 地址 430070 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋

  • 入库时间 2022-08-23 10:56:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-28

    授权

    授权

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G09G3/00 申请日:20161227

    实质审查的生效

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G09G 3/00 申请日:20161227

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

    公开

  • 2017-05-31

    公开

    公开

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