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用于TFT-LCD显示面板的电性测试装置及其电性测试方法

摘要

本发明提供一种用于TFT‑LCD显示面板的电性测试装置,其包括探针和步进组件,步进组件与该探针连接,用于驱动该探针以预设步进量进行步进伸缩,使得该探针穿过该TFT‑LCD显示面板的绝缘膜,以对设于该绝缘膜下的导电体进行测试。本发明可任意设置步进量,使调节灵活方便,提高电性测试装置的穿膜的移动精度,避免过力压损导电体或接触不到导电体进行电性测试,提高测试的质量。

著录项

  • 公开/公告号CN105589275B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201610140055.1

  • 发明设计人 孟林;

    申请日2016-03-11

  • 分类号

  • 代理机构深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人何青瓦

  • 地址 430070 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋

  • 入库时间 2022-08-23 10:21:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-23

    授权

    授权

  • 2016-06-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F1/1368 申请日:20160311

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F 1/1368 申请日:20160311

    实质审查的生效

  • 2016-05-18

    公开

    公开

  • 2016-05-18

    公开

    公开

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