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一种用于聚焦离子束机台提取样品的方法

摘要

本发明提出一种用于聚焦离子束机台提取样品的方法,包括下列步骤:提供欧姆尼探针;使用沉积钨将样品薄片粘连到欧姆尼探针上;通过欧姆尼探针将样品转移到样品载体上;通过聚焦离子束切断的方法将样品和欧姆尼探针分离;在后续制样时,通过第一次残留样品与本次样品进行连接;通过聚焦离子束切断的方法将本次样品和第一次残留样品进行切断。本发明提出的用于聚焦离子束机台提取样品的方法,利用样品和样品之间的连接和切断来提取新的样品,从而避免欧姆尼探针的损耗并延长欧姆尼探针的使用寿命。

著录项

  • 公开/公告号CN107356460B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201710567411.2

  • 申请日2017-07-12

  • 分类号G01N1/28(20060101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人智云

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号

  • 入库时间 2022-08-23 10:54:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-10

    授权

    授权

  • 2017-12-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N1/28 申请日:20170712

    实质审查的生效

  • 2017-12-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 1/28 申请日:20170712

    实质审查的生效

  • 2017-11-17

    公开

    公开

  • 2017-11-17

    公开

    公开

  • 2017-11-17

    公开

    公开

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