首页> 中国专利> 一种数字全息与微分干涉联合的双通道相移相位测量显微镜

一种数字全息与微分干涉联合的双通道相移相位测量显微镜

摘要

一种数字全息与微分干涉联合的双通道相移相位测量显微镜,包括:用于生成测量光束的光束调整及耦合单元;用于接收测量光束以形成相应成像光束和第一调整剪切相移正交偏振光的相移微分干涉显微镜单元;用于接收测量光束,并形成相应成像光束的相移数字全息显微镜单元;用于接收第一调整剪切相移正交偏振光,并输出相应成像光束的普通显微镜成像组件;用于控制形成成像光束,并对成像光束进行相位计算和分析以获取相位计算和分析的结果的控制分析单元。可见,实施本发明实施例可以提高对微小透明样品实时三维动态相位测量的准确度,为细胞、微流场和微器件研究及相关的工程应用提供一种新的定量测量手段。

著录项

  • 公开/公告号CN108303020B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南师范大学;

    申请/专利号CN201711437162.1

  • 申请日2017-12-26

  • 分类号G01B9/04(20060101);G01B9/02(20060101);G01B9/027(20060101);

  • 代理机构44326 广州容大专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新年

  • 地址 510600 广东省广州市天河区中山大道西55号

  • 入库时间 2022-08-23 10:54:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-03

    授权

    授权

  • 2018-08-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B9/04 申请日:20171226

    实质审查的生效

  • 2018-08-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 9/04 申请日:20171226

    实质审查的生效

  • 2018-07-20

    公开

    公开

  • 2018-07-20

    公开

    公开

  • 2018-07-20

    公开

    公开

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