用于在储存体装置的编程之前进行擦除检测的系统和方法

摘要

公开了用于检测编程干扰和用于基于检测到的编程干扰进行编程/读取的系统和方法。编程干扰包括在存储器的选定区段的编程操作期间无意地编程存储器的未选定区段。为了降低编程干扰的影响，在预定状态(诸如擦除状态)下对编程干扰分析存储器的区段。响应于识别到编程干扰的迹象，可以调整用于编程存储器的区段的电压(诸如用于将数据编程到存储器的区段的单元中的编程验证电平)。同样地，当从存储器的区段读取数据时，可以基于经调整的用于编程的电压来调整读取电压。以这种方式，使用经调整的编程和读取电压，可以降低编程干扰的影响。