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一种提高CMOS图像传感器量子效率的光电二极管结构

摘要

本发明公开了一种提高CMOS图像传感器量子效率的光电二极管结构,位于轻掺杂衬底中,包括重置晶体管、传输晶体管、PN光电二极管、像素单元隔离区、阱区和环状硅区;所述传输晶体管的两端分别连接所述重置晶体管和PN光电二极管;所述重置晶体管、传输晶体管和PN光电二极管形成的区域被环状的像素单元隔离区包围,所述像素单元隔离区中紧邻所述重置晶体管的部分为浅沟槽隔离,所述PN光电二极管中P型区域和N形区域在垂直方向上下分布,且位于下方的区域自上而下包括掺杂浓度不同的区域Ⅰ、区域Ⅱ和区域Ⅲ,在所述阱区和像素单元隔离区的下方设置环状硅区。本发明提供的光电二极管结构,可以提高长波段的量子效率,并且避免引入带间隧穿漏电。

著录项

  • 公开/公告号CN107994096B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201711223134.X

  • 发明设计人 孙德明;

    申请日2017-11-29

  • 分类号

  • 代理机构上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人吴世华

  • 地址 201210 上海市浦东新区上海浦东张江高斯路497号

  • 入库时间 2022-08-23 10:53:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-31

    授权

    授权

  • 2018-05-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/109 申请日:20171129

    实质审查的生效

  • 2018-05-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/109 申请日:20171129

    实质审查的生效

  • 2018-05-04

    公开

    公开

  • 2018-05-04

    公开

    公开

  • 2018-05-04

    公开

    公开

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