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公开/公告号CN100373532C
专利类型发明授权
公开/公告日2008-03-05
原文格式PDF
申请/专利权人 FEI公司;
申请/专利号CN200410049044.X
发明设计人 H·G·塔佩尔;
申请日2004-06-11
分类号
代理机构中国专利代理(香港)有限公司;
代理人苏娟
地址 美国俄勒冈州
入库时间 2022-08-23 09:00:14
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2008-03-05
授权
2006-08-16
实质审查的生效
2005-02-23
公开
机译: 尤其是用于切片试样制备的试样,装置和制备电子显微镜试样的方法
机译: 特别是用于切片试样制备的试样,装置和制备电子显微镜试样的方法
机译: 电子显微镜用试样的制备方法,使用该试样的试样观察方法以及试样观察装置
机译:一套用于操纵西门子电子显微镜试样夹的夹头
机译:用于分析电子显微镜的试样制造方法,以减少样品矩阵的影响
机译:电子显微镜中用于试样支撑的碳复制体和碳膜的简化制备方法
机译:用于开发半导体制造设备新型温度测量方法的试样加热方法的评价
机译:双重操纵杆控制的光学诱捕和切割系统,用于细胞的光学显微操纵。
机译:一套用于操纵西门子电子显微镜试样座的夹头
机译:Dobrolubov和Romer硬化混凝土显微镜检验方法的评价和改进:用于制备和检查荧光超薄切片的方法和设备。