首页> 中国专利> 发光装置、校正系数的计算方法及检查对象物的拍摄图像的校正方法

发光装置、校正系数的计算方法及检查对象物的拍摄图像的校正方法

摘要

本发明提供一种能够将制造成本抑制得较低并且通过简易的结构就能够进行均匀性较高的发光的发光装置、使用该发光装置的校正系数的计算方法、以及基于计算的校正系数对检査对象物的拍摄图像进行校正的检査对象物的拍摄图像的校正方法。所述发光装置具备:多个发光二极管(32),其在假想圆(R)的圆周上等间隔地配置;以及出射窗(24),其设置于与发光二极管(32)分开的顶面部(22),具有比配置有发光二极管(32)的圆周小的外缘(24a),被着色成使发光二极管(32)的光透过的乳白色,配置有发光二极管(32)的假想圆(R)的半径、以及发光二极管(32)和出射窗(24)之间的分开距离(d)设定为规定的距离。

著录项

  • 公开/公告号CN107211094B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 宜客斯股份有限公司;

    申请/专利号CN201680007105.7

  • 发明设计人 村濑浩;高野友行;

    申请日2016-01-27

  • 分类号

  • 代理机构上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人梁海莲

  • 地址 日本国东京都品川区

  • 入库时间 2022-08-23 10:52:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-10

    授权

    授权

  • 2017-11-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N5/232 申请日:20160127

    实质审查的生效

  • 2017-11-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 5/232 申请日:20160127

    实质审查的生效

  • 2017-09-26

    公开

    公开

  • 2017-09-26

    公开

    公开

  • 2017-09-26

    公开

    公开

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