首页> 中国专利> 基于光片结构光的显微层析超分辨率成像方法及系统

基于光片结构光的显微层析超分辨率成像方法及系统

摘要

本发明公开了一种基于光片结构光的显微层析超分辨率成像方法及系统,其中,方法包括:对光照端的入射光进行空间调制,以生成光片从侧面照明样本;将光照端的光片调制成多个不同频率且不同方向的样式图案,并相应地在探测端拍摄多张图像;根据多张图像通过结构光超分辨率方法提高图像分辨率,以得到超分辨率显微层析成像图像。该方法可以有效提高成像分辨率,消除背景噪声。

著录项

  • 公开/公告号CN108227233B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201711447792.7

  • 发明设计人 戴琼海;边丽蘅;陈峰;

    申请日2017-12-27

  • 分类号

  • 代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张润

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园

  • 入库时间 2022-08-23 10:51:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-21

    授权

    授权

  • 2018-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B27/58 申请日:20171227

    实质审查的生效

  • 2018-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 27/58 申请日:20171227

    实质审查的生效

  • 2018-06-29

    公开

    公开

  • 2018-06-29

    公开

    公开

  • 2018-06-29

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号