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用于选择测试模式输出通道的测试布置及方法

摘要

一种用于测试待测电路单元(101、101a~101n)的测试布置,具有:测试设备,用于保持待测电路单元;输入/输出通道(DQ0~DQn),用于将所述待测电路单元与所述测试设备相连,以及用于与所述待测电路单元交换测试数据;以及测试模式输出通道(103、103a~103n),用于输出来自所述待测电路单元的测试结果数据(104、104a~104n),其中在所述待测电路单元中设置至少一个转向单元(102、102a~102n),用于将所述测试模式输出通道之一与所述输入/输出通道之一相连,从而可以将从所述待测电路单元输出的所述测试结果信号从所述待测电路单元转向所述输入/输出通道中指定的一个。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-11-24

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 授权公告日:20071226 终止日期:20090930 申请日:20040831

    专利权的终止

  • 2007-12-26

    授权

    授权

  • 2005-05-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-03-09

    公开

    公开

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