基于分段量化相位编码的结构光三维测量方法

摘要

本发明公开了基于分段量化相位编码的结构光三维测量方法，由分段量化相位编码原理、三维测量原理两大关键部分组成。本发明的优点是：(1)与传统的正弦条纹图加相位编码条纹图三维测量方法相比：传统方法单调有限地量化编码相位以产生唯一的码字，仅使用1位码字确定当前周期条纹级次；本方法通过特定的编码序列来调制量化编码相位，特定的编码规则使得解码的准确性得以大大提高；(2)该方法将调制后的量化编码相位嵌入到3幅编码条纹图中，并使用连续的3位码字确定当前周期条纹级次，极大地提高了条纹级次的准确性和三维测量精度；(3)根据实际测量需要,该方法可以产生较多的码字，测量精度高，鲁棒性好，在复杂物体较大物体、带有单一颜色物体的三维测量中具有潜在的应用前景和实用价值。