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一种在有机半导体器件的有机层中阻挡空穴的方法

摘要

一种在有机半导体器件的有机层中阻挡空穴的方法,一般都是通过选择不同的电极与有机半导体的接触,来调控和影响电子或空穴的注入速率和相对比例,从而影响电致发光器件的发光效率以及复合发光的区域位置。本发明在有机半导体的薄区域1-10nm进行铝掺杂,掺杂浓度是铝对有机分子的摩尔比为0.1∶1-10∶1。由于铝掺杂,器件的发光与否可用于灵敏探测空穴是否被完全阻挡住。实验表明在不同的有机半导体材料NPB和Alq中,进行铝掺杂都可以完全阻挡空穴的传输。

著录项

  • 公开/公告号CN100369293C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-02-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 复旦大学;

    申请/专利号CN200510023306.X

  • 发明设计人 侯晓远;王子君;丁训民;

    申请日2005-01-13

  • 分类号H01L51/56(20060101);H01L51/54(20060101);

  • 代理机构31200 上海正旦专利代理有限公司;

  • 代理人姚静芳;王福新

  • 地址 200433 上海市邯郸路220号

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-03-21

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 51/56 授权公告日:20080213 终止日期:20110113 申请日:20050113

    专利权的终止

  • 2008-02-13

    授权

    授权

  • 2005-09-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-07-27

    公开

    公开

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