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基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法及装置

摘要

本发明公开了基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法及装置,其中,该方法包括:首先,获取待识别缺陷的漏磁信号的垂直分量;接着,对垂直分量进行识别,判定缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点;接着,根据所述直角特征获取所述缺陷的各个直角位置点的可能的直角类型;接着,将各个可能的直角类型在对应的直角位置点进行遍历,确定各个直角位置点对应的最佳直角类型;最后,根据各个直角位置点对应的最佳直角类型绘制缺陷的轮廓以完成缺陷轮廓识别。该方法只需对漏磁信号的垂直分量进行计算分析,通过判定各个直角的直角特征、在缺陷几何拓扑图中进行遍历搜寻等操作,实现缺陷轮廓识别,具有较好的识别效果。

著录项

  • 公开/公告号CN107607612B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-11-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201710686539.0

  • 申请日2017-08-11

  • 分类号

  • 代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张润

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园

  • 入库时间 2022-08-23 10:44:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-22

    授权

    授权

  • 2018-02-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/83 申请日:20170811

    实质审查的生效

  • 2018-02-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/83 申请日:20170811

    实质审查的生效

  • 2018-01-19

    公开

    公开

  • 2018-01-19

    公开

    公开

  • 2018-01-19

    公开

    公开

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