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一种基于相位调制的光栅传感器位移测量系统

摘要

本发明公开了一种基于相位调制的光栅传感器位移测量系统,包括光栅传感光路单元、信号处理单元。光栅传感光路单元包括准直光源、MEMS扫描镜、主光栅和指示光栅,信号处理单元包括光电转换、锁相环相。本发明采用MEMS振镜结构对指示光栅相对主光栅的相对位移信号进行相位调制,采用单个探测器即可实现位移的精密测量。通过锁相环在特定谐波频谱处对信号进行解调处理,把测量信号迁移出低频带,克服了直流漂移等低频变化的影响,同时在信号处理中亦可有效降低高频带噪声的影响,避免了传统光栅传感器两路或者四路信号带来的正交误差,降低直流漂移和幅值波动对测量结果的影响,提高了测量系统在低速和高速位移测量时的测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN106907999B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-11-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥工业大学;

    申请/专利号CN201710306458.3

  • 申请日2017-05-04

  • 分类号

  • 代理机构安徽合肥华信知识产权代理有限公司;

  • 代理人余成俊

  • 地址 230009安徽省合肥市屯溪路193号

  • 入库时间 2022-08-23 10:43:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-15

    授权

    授权

  • 2017-07-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20170504

    实质审查的生效

  • 2017-07-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20170504

    实质审查的生效

  • 2017-06-30

    公开

    公开

  • 2017-06-30

    公开

    公开

  • 2017-06-30

    公开

    公开

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