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具有不对称结构的晶体管的形成方法

摘要

本发明提供了一种具有不对称结构的晶体管的形成方法,所述方法包括:提供基底,所述基底上具有第一半导体层和位于所述第一半导体层上的第二半导体层;形成覆盖部分所述第二半导体层的第一掩膜结构,在所述第一掩膜结构的第一侧形成第二掩膜结构;对所述第一掩膜结构和所述第二掩膜结构暴露出的第二半导体层进行刻蚀,直至暴露出所述第一半导体层的表面,剩余的第二半导体层构成衬垫层;在所述第一掩膜结构的与所述第一侧相对的第二侧形成侧墙结构;去除所述第二掩膜结构,在所述第一掩膜结构第一侧的衬垫层上形成漏极接触结构,在所述第一掩膜结构第二侧的第一半导体层上形成源极接触结构。本发明形成的具有不对称结构的晶体管的漏电流小。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-01

    授权

    授权

  • 2017-07-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20151211

    实质审查的生效

  • 2017-07-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/78 申请日:20151211

    实质审查的生效

  • 2017-06-20

    公开

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  • 2017-06-20

    公开

    公开

  • 2017-06-20

    公开

    公开

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