适用于各类周期性测试算法的存储器内建自测试电路

摘要

一种适用于各类周期性测试算法的存储器内建自测试电路，其组成模块包括：内建自测试控制单元、时钟控制信号产生器、地址产生器、数据产生器、数据比较器、可选延时单元、及多个控制寄存器；控制寄存器包括：地址扫描寄存器、算法元素寄存器、算法操作寄存器、数据寄存器及延时寄存器；内建自测试控制单元控制其他各模块协同工作，时钟控制信号产生器、地址产生器、数据产生器分别生成存储器运行所需的时钟控制信号、地址信号以及数据信号，数据比较器判断存储器读取数据正确性并将结果反馈给内建自测试控制单元。通过配置各控制寄存器可实现各类常用周期性存储器测试算法；相应的命令与运作状态机设计可方便的完成对存储器的测试与问题分析工作。