一种二维材料正入射菲涅尔光学表征方法

摘要

本发明提供的二维材料正入射菲涅尔光学表征方法，采用传统的光学薄膜基本理论‑传导矩阵方法，引入光学导纳概念，推导无支撑和有基底二维材料在正入射条件下吸收、反射率、透过率的简单计算公式，推导过程简单，有利于二维材料在光电领域的应用。