首页> 中国专利> 膜厚控制系统及薄膜剖面图像的字符提取与膜厚采集方法

膜厚控制系统及薄膜剖面图像的字符提取与膜厚采集方法

摘要

本发明公开了一种膜厚控制系统及薄膜剖面图像的字符提取与膜厚采集方法,膜厚控制系统包括挤出单元、冷却成型单元、拉伸单元、测厚单元、监测控制单元和收卷单元,其中冷却成型单元内含刻印模块,监测控制单元内有数显设备、膜厚图像拾取模块、图像处理模块、控制模块、模头调节器和变频器。测厚单元检测薄膜厚度并将薄膜剖面图像传送给数显设备,并经膜厚图像拾取模块转送到图像处理模块,控制模块接收图像处理模块输出的标记有模头螺栓位置的薄膜厚度值集合后分别通过变频器和模头调节器来调节薄膜纵向和横向的厚度。本发明实时采集薄膜剖面图像信号,分析处理得到厚度参数,通过模头螺栓进行剖面的厚度调节,达到薄膜横向厚度均匀的目的,同时通过挤出速度的调节使薄膜纵向厚度保持一致。

著录项

  • 公开/公告号CN107310173B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量大学;

    申请/专利号CN201710429716.7

  • 发明设计人 邹细勇;朱力;胡晓静;

    申请日2017-05-28

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号

  • 入库时间 2022-08-23 10:41:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-24

    授权

    授权

  • 2018-01-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):B29D7/01 申请日:20170528

    实质审查的生效

  • 2018-01-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):B29D 7/01 申请日:20170528

    实质审查的生效

  • 2017-11-03

    公开

    公开

  • 2017-11-03

    公开

    公开

  • 2017-11-03

    公开

    公开

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