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一种基于局部跨尺度自回归模型的单幅图像超分辨率方法

摘要

本发明涉及图像处理技术,其公开了一种基于局部跨尺度自回归模型的单幅图像超分辨率方法,解决传统技术中采用平滑先验或者梯度先验对重建图像进行约束带来的会模糊输出图像细节或者输出结果过于锐化的问题。该方法包括以下步骤:a.对原始输入低分辨率图像利用双三次插值得到初始估计;b.计算图上所有局部5*5像素块的像素方差并进行非平滑性检测;c.利用得到的初始估计,进行2倍下采样得到4幅下采样版本的低分辨率图;d.对每一幅低分辨率图的每一个像素点进行选择性像素处理:如果像素点为非平滑点,则利用SAI方法估计其局部回归模型,否则,直接预设模型参数;e.根据4幅图估计的所有局部回归模型,利用迭代求解的方法对重建的高分辨率图进行约束。

著录项

  • 公开/公告号CN106600539B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川长虹电器股份有限公司;

    申请/专利号CN201611167531.5

  • 发明设计人 何娟;万蕾;

    申请日2016-12-16

  • 分类号

  • 代理机构成都虹桥专利事务所(普通合伙);

  • 代理人吴中伟

  • 地址 621000 四川省绵阳市高新区绵兴东路35号

  • 入库时间 2022-08-23 10:40:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-24

    授权

    授权

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T3/40 申请日:20161216

    实质审查的生效

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 3/40 申请日:20161216

    实质审查的生效

  • 2017-04-26

    公开

    公开

  • 2017-04-26

    公开

    公开

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