一种纳米尺度光场矢量偏振分布检测系统和方法

摘要

本发明提供一种纳米尺度光场矢量偏振分布检测系统和方法，所述系统包括：照明模块，用于向等离激元等样品发射不同偏振态的入射光，所述入射光激发等离激元等样品生成纳米尺度光场；扫描近场光学显微镜装置，所述扫描近场光学显微镜装置用于对所述纳米尺度光场进行近场逐点扫描，将纳米尺度光场的近场斯托克斯参数转换为远场斯托克斯参数；偏振调制模块，用于对所述远场斯托克斯参数进行偏振调制，得到偏振调制信号；偏振检测及解调模块，用于解调所述偏振调制信号，输出所述偏振调制信号的偶数阶倍频解调信号；通过所述偶数阶倍频信号和所述系统参数得到所述远场斯托克斯参数，基于所述远场斯托克斯参数还原出近场斯托克斯参数。