首页> 中国专利> 用于对样品去层以对样品进行逆向工程的系统和方法

用于对样品去层以对样品进行逆向工程的系统和方法

摘要

本发明涉及用于对样品去层以对样品进行逆向工程的系统和方法。其中,所述样品的暴露表面包括多种材料,所述系统包括:离子束打磨机;去层反馈机制;和控制系统,所述控制系统与所述离子束打磨机和所述去层反馈机制可操纵地通信,以基于所述反馈机制自动控制所述离子束打磨机的一个或更多个操作参数,从而使用所述离子束打磨机的离子束以相等的离子束移除速率移除所述多种材料中的每种材料,以从所述样品的所述暴露表面移除具有恒定厚度的平坦的层,其中,从所述样品的每个新暴露的表面获取表面数据,以用于对至少一部分的所述样品进行逆向工程。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-06

    授权

    授权

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23F4/00 申请日:20121112

    实质审查的生效

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23F 4/00 申请日:20121112

    实质审查的生效

  • 2017-02-22

    公开

    公开

  • 2017-02-22

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号