一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法

摘要

本发明涉及一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，液晶玻璃板中有缺陷，该方法包括：通过显微镜观察确定对应面焦距和缺陷焦距，通过下式计算缺陷距离基准面的深度：深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距；按照距离液晶玻璃板外表面的深度，将液晶玻璃板内部划分为A区域、D区域和F区域，缺陷在A区域时，表明铂金区的净化工段产生了缺陷；缺陷在F区域时：表明成型区的固化工段产生了缺陷；缺陷在D区域时：表明池炉区的熔融工段产生了缺陷。本发明能够准确测量得到缺陷在玻璃板中的深度位置，通过缺陷深度数据找到产生缺陷的工段，进而消除工段中问题，提升良品率。