一种利用X射线荧光光谱仪扫描道检测元素含量的方法

摘要

本发明公开了一种利用X射线荧光光谱仪扫描道检测元素含量的方法，包括以下步骤：步骤一、建立标准曲线；步骤二、分析生产样品；步骤三、数据补偿修正；步骤四、分析待测样品。本发明在保留了X射线荧光光谱仪的扫描道原有的半定性‑半定量的检测功能的基础上，还拓展了扫描道的定量分析的检测功能，利用分析生产样品计算偏差值和根据偏差值设定补偿系数对待测样品进行数据补偿修正解决了扫描道检测强度低、使得只用半定量功能的扫描道具有与固定道同样的功能，起到了代替固定道的功能。