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用于表面形貌测量的高精度干涉型双位相光栅位移传感器

摘要

本发明公开了一种用于表面形貌测量的高精度干涉型双位相光栅位移传感器,它包括激光器、反射型柱面全息位相光栅、对称设置的两个平面反射镜、线密度为反射型柱面全息位相光栅线密度的两倍的参考平面光栅、对称设置的两个光电探测器、分别与两个光电探测器相连接的两个信号处理装置、一端与反射型柱面全息位相光栅相连接的测量杠杆、与测量杠杆的另一端相连接且与待测工件的表面相接触的触针;反射型柱面全息位相光栅并产生衍射角为θ的±1级衍射光,经过两个平面反射镜反射后入射至参考平面光栅上的同一光栅区域并分别在±θ角方向产生两组不同级次的衍射光的干涉条纹,分别由两个光电探测器接收并转换为电信号发送至信号处理装置进行处理。

著录项

  • 公开/公告号CN107421464B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州大学;

    申请/专利号CN201710609100.8

  • 发明设计人 陈新荣;查杭;李朝明;吴建宏;

    申请日2017-07-25

  • 分类号

  • 代理机构苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人杨慧林

  • 地址 215000 江苏省苏州市相城区济学路8号

  • 入库时间 2022-08-23 10:37:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-06

    授权

    授权

  • 2017-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 申请日:20170725

    实质审查的生效

  • 2017-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20170725

    实质审查的生效

  • 2017-12-01

    公开

    公开

  • 2017-12-01

    公开

    公开

  • 2017-12-01

    公开

    公开

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