一种铁电材料电滞回线的光学测量方法

摘要

本发明公开一种铁电材料电滞回线的光学测量方法，步骤1、将铁电材料放置于正交偏振成像系统的物面上；步骤2、给铁电材料加载正向(或反向)电场使其单畴化，随后逐渐卸/加载电场循环一个周期，记录不同电场下的铁电畴结构；步骤3、将加载电场单畴化时的畴壁侧向移动方向作为铁电畴位移方向，提取新畴的长度矢量