一种可配置的抗辐射芯片前端网表自动生成方法

摘要

一种可配置的抗辐射芯片前端网表自动生成方法，采用可配置的抗辐射数字标准单元库进行设计，并采用可配置的TIP的测试激励来进行验证，步骤为：基于IP构建起芯片的RTL代码；采用抗辐射指标可配置的单元库进行综合；基于IP构建可配置的测试集合；根据IP在芯片设计时的参数定义配置相应的测试集合；基于配置后的测试集合和设计的RTL代码构建起仿真验证环境；启动仿真验证并将相应的测试集合注入以验证设计的正确性；验证其正确性后生成最终的前端网表。本发明方法实现简单并且大幅减少了基于IP的抗辐射芯片设计与验证的开销，提升了基于IP的抗辐射加固的芯片设计与验证的效率，实现了前端网表的高效自动生成。