一种阵列天线辐射特性的快速测量方法

摘要

本发明提供了一种阵列天线辐射特性的快速测量方法，在非暗室环境中，利用收发信机向发射待测天线发射信号，由按按轨迹移动的探头接收信号并传回收发信机，经主控计算机计算输出口面近场值，再根据口面近场值合成待测阵列天线的方向图，从而得到阵列天线的辐射特性参数数值。本方法对测量环境没有特殊要求，不受场地大小、天气等的限制，无需严格的屏蔽暗室，在天线的生产环境、或者研发环境中就可以进行测量，测试速度快、效率高，测试装置占地面积小，可随时进行测量，方便快捷，测试结果全面、准确，特别适用于生产线上作为快速检测天线产品，以及在研发产品时对天线作为初步检测使用。