功率半导体器件损耗特性的测试平台及测试方法

摘要

本发明提供了一种功率半导体器件损耗特性的测试平台及测试方法，包括：直流供电模块，用于根据给定参考电压向被测模块提供电能；被测模块包括至少一个被测单元，被测单元用于模拟功率半导体器件的工作状态；驱动模块，用于根据总控制模块输出的开关状态信号控制被测单元中功率半导体器件的开关状态；测量模块，用于检测被测单元中的功率半导体器件及对应的负载模块的电气状态、温度状态；总控制模块，用于对测量模块测得的结果进行分析并控制整个测试平台，获得被测单元中功率半导体器件的损耗特性。本发明可实现多个功率半导体器件接近真实工作状态下的开关以及通态特性测试，并且可对电流、电压以及温度等多个测试条件进行设置。