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检查光源模块的缺陷的方法和制造光源模块的方法

摘要

一种用于检查光源模块的缺陷的方法和制造光源模块的方法,所述用于检查光源模块的缺陷的方法包括制备其上安装有发光器件和覆盖发光器件的透镜的板。将电流施加至发光器件以接通发光器件。在发光器件接通的情况下对透镜成像。基于获得的图像计算表示发光分布相对于透镜的中心的对称性的中心对称性,并且将计算的中心对称性与参考值进行比较以确定是否发生了不对称的发光分布。还提供了用于检查光源模块的各种其它方法和设备。

著录项

  • 公开/公告号CN105280510B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN201510133011.1

  • 发明设计人 池元秀;权五锡;朴大绪;K·李;

    申请日2015-03-25

  • 分类号H01L21/66(20060101);

  • 代理机构11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人张帆;井杰

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 10:32:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-28

    授权

    授权

  • 2016-02-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/66 申请日:20150325

    实质审查的生效

  • 2016-02-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20150325

    实质审查的生效

  • 2016-01-27

    公开

    公开

  • 2016-01-27

    公开

    公开

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