首页> 中国专利> 一种二维X射线头影测量图像解剖特征点自动定位方法

一种二维X射线头影测量图像解剖特征点自动定位方法

摘要

本发明公开了一种二维X射线头影测量图像解剖特征点自动定位方法,属于图像处理技术领域。首先计算X射线头影测量图像中每个解剖特征点的偏移距离图,将其和头影测量图像作为训练数据。其次,基于卷积神经网络模型构建自动编码生成对抗性网络,并将已有训练数据作为输入,训练该网络预测针对目标解剖特征点的偏移距离图。再次,当获得新的X射线头影测量图像时,将训练好的自动编码生成对抗性网络作用于新图像,以获得目标解剖特征点的偏移距离图。最后,使用回归投票方法从偏移距离图中求得目标解剖特征点坐标。本发明能自动、准确地获得二维X线头影测量图像中解剖特征点位置。

著录项

  • 公开/公告号CN109461188B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京邮电大学;

    申请/专利号CN201910088695.6

  • 发明设计人 戴修斌;赵浩;刘天亮;晏善成;

    申请日2019-01-30

  • 分类号

  • 代理机构南京纵横知识产权代理有限公司;

  • 代理人董建林

  • 地址 210046 江苏省南京市栖霞区亚东新城区文苑路9号

  • 入库时间 2022-08-23 10:31:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-26

    授权

    授权

  • 2019-04-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/73 申请日:20190130

    实质审查的生效

  • 2019-04-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/73 申请日:20190130

    实质审查的生效

  • 2019-03-12

    公开

    公开

  • 2019-03-12

    公开

    公开

  • 2019-03-12

    公开

    公开

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