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基于AOI的PCB裸板盲孔缺陷的检测系统及方法

摘要

本发明提出了一种基于AOI的PCB裸板盲孔缺陷检测系统及方法,用于解决现有检测系统及方法中存在的弱光照环境下盲孔检测准确率低的技术问题,检测系统包括依次相连的图像采集单元、图像预处理单元、文件预处理单元、参数读取单元、盲孔检测单元和误差计算单元;该系统首先采集待测PCB裸板的扫描图像,通过预处理得到二值图像,接着读取标准PCB裸板的设计文件信息,根据标准PCB裸板的设计文件信息,检测二值图像中所有盲孔的坐标及半径,最后计算待测PCB裸板扫描图像上所有盲孔的误差。本发明在弱光照环境下的检测准确率高,且系统成本低,可用于电路板加工环境中盲孔缺陷的检测。

著录项

  • 公开/公告号CN106327496B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201610742302.5

  • 申请日2016-08-26

  • 分类号

  • 代理机构陕西电子工业专利中心;

  • 代理人韦全生

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:30:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-23

    授权

    授权

  • 2017-02-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20160826

    实质审查的生效

  • 2017-02-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20160826

    实质审查的生效

  • 2017-01-11

    公开

    公开

  • 2017-01-11

    公开

    公开

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