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用于结构照明显微术的图像序列和评估方法及系统

摘要

一种用于结构照明显微术的图像序列和评估方法及系统。在用于确定标本的表面上的多个空间位置的高度的方法及装置中,将光束投射在表面上。光束具有在垂直于光束的光轴的至少两个方向上是周期性的并且被移动到不同的空间图案位置的空间图案。在不同扫描位置处沿着光轴扫描表面。在随后的空间图案位置之间的移动距离、与随后的扫描位置之间的扫描距离之间存在固定关系。利用具有对应的空间图案位置的空间图案在扫描位置处检测由表面反射的光。根据用于表面的每个空间位置的检测到的光,确定对应于扫描位置的强度值的包络曲线。选择包络曲线的最大值以及其对应的扫描位置,其代表表面的空间位置的高度。分别在第一和第二方向上通过1/4和1/n图案波长的距离在2n个步阶(n>2)的序列中移动所述空间图案。

著录项

  • 公开/公告号CN104833311B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社三丰;

    申请/专利号CN201510003099.5

  • 申请日2015-01-05

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人王怀章

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 10:29:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    授权

    授权

  • 2017-02-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/06 申请日:20150105

    实质审查的生效

  • 2017-02-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20150105

    实质审查的生效

  • 2015-08-12

    公开

    公开

  • 2015-08-12

    公开

    公开

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