首页> 中国专利> 一种空间环境下CMOS器件单粒子闩锁效应防护装置

一种空间环境下CMOS器件单粒子闩锁效应防护装置

摘要

一种空间环境下CMOS器件单粒子闩锁效应防护装置,属于过流保护领域,解决了现有商业级过流保护芯片在空间环境下可靠性低的问题。所述防护装置:供电电源与CMOS器件构成电气回路。电流采集模块将所述电气回路中的电流信号转换为电压信号。电压比较模块判断转换的电压信号与基准电压信号的大小,当前者小于或等于后者时,开关控制模块通过开关模块使电气回路保持连通,否则,开关控制模块通过开关模块断开所述电气回路。开关定时开启模块用于在电气回路断开后的T时间通过控制开关控制模块和开关模块,使电气回路连通。所述防护装置所采用的电子元器件均为模拟元器件。本发明所述装置适用于空间环境下CMOS器件单粒子闩锁效应的防护。

著录项

  • 公开/公告号CN107134758B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201710311550.9

  • 发明设计人 王少军;郭玥;李攀;马宁;彭宇;

    申请日2017-05-08

  • 分类号H02H7/20(20060101);H02H3/08(20060101);

  • 代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人宋诗非

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 10:26:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-22

    授权

    授权

  • 2017-09-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H02H7/20 申请日:20170508

    实质审查的生效

  • 2017-09-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H02H 7/20 申请日:20170508

    实质审查的生效

  • 2017-09-05

    公开

    公开

  • 2017-09-05

    公开

    公开

  • 2017-09-05

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号