一种高反射物体表面光场偏折术测量系统和方法

摘要

本发明涉及一种高反射物体表面光场偏折术测量系统和方法，用于高反射物体表面的三维重建，本系统采用光线反射原理获取高反射物体表面的法线信息,继而获得曲面信息，由光场投射系统，光线感知系统。本方法是通过相位恢复术确定入射光线和反射光线的对应性计算待测物体表面三维点。本发明相较普通相位偏折术不存在‘法线不唯一问题’，并且在光场相机模式下，对物体表面高度变化有更高的响应特性，能够得到更高的测量精度，填补了国内外基于光场的偏折术测量系统的空白。