公开/公告号CN106231814B
专利类型发明专利
公开/公告日2019-01-15
原文格式PDF
申请/专利权人 高德(无锡)电子有限公司;
申请/专利号CN201610691603.X
发明设计人 华福德;
申请日2016-08-18
分类号
代理机构无锡市大为专利商标事务所(普通合伙);
代理人殷红梅
地址 214101 江苏省无锡市锡山区锡山经济开发区春晖东路32号
入库时间 2022-08-23 10:24:39
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-01-15
授权
授权
2017-01-11
实质审查的生效 IPC(主分类):H05K3/36 申请日:20160818
实质审查的生效
2017-01-11
实质审查的生效 IPC(主分类):H05K 3/36 申请日:20160818
实质审查的生效
2016-12-14
公开
公开
2016-12-14
公开
公开
机译: 具有膜厚测定方法的图像形成装置,膜厚测定装置及膜厚测定装置,感光体的制造方法以及感光体
机译: 异质结薄膜多层结构的半导体多层薄膜的膜厚测量方法
机译: 光学膜厚控制方法,光学膜厚控制装置,电介质多层膜制造装置以及使用该控制装置或制造装置制造的电介质多层膜