首页> 中国专利> 一种用于平面局部高点去除的精密研磨装置及参数确定方法

一种用于平面局部高点去除的精密研磨装置及参数确定方法

摘要

本发明属于精密加工技术领域,涉及一种用于平面局部高区域精密研磨装置及参数确定方法,该装置包括电机外壳、减震垫圈、电机、连接块、传递块、密珠轴承、基准块、偏心研磨块、羊毛毡密封圈、精密钢球、压簧;本发明提供了一种以工件表面高点周围较为平坦的区域为基准,通过研磨工艺去除高点的平面精密研磨装置;该研磨装置中采用偏心研磨块作为磨头,减小研磨块的非均匀磨损,提高研磨块工作面的精度;采用T型密珠轴套组成的轴承结构,偏心研磨块高精度回转和轴向限位作用,防止高点区域的过度研磨;该装置具有结构简单、偏心研磨块可更换、操作方便且研磨精度高等优点,能满足超高精度的平面的研磨需求,具有良好的市场应用前景与推广价值。

著录项

  • 公开/公告号CN107150286B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201710474426.4

  • 申请日2017-06-21

  • 分类号

  • 代理机构大连理工大学专利中心;

  • 代理人梅洪玉

  • 地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:23:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-18

    授权

    授权

  • 2017-10-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B37/00 申请日:20170621

    实质审查的生效

  • 2017-10-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B 37/00 申请日:20170621

    实质审查的生效

  • 2017-09-12

    公开

    公开

  • 2017-09-12

    公开

    公开

  • 2017-09-12

    公开

    公开

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