首页> 中国专利> 一种基于成像系统特性的X射线相位成像方法

一种基于成像系统特性的X射线相位成像方法

摘要

本发明公开一种基于成像系统特性的X射线相位成像方法,包括:设置X射线类同轴相衬成像参数和数字放射成像系统的曝光参数,在待成像的物平面位置放置刀口器具,采集获得刀口图像,从图像中获取不同位置的刀口截面曲线,计算二维点扩散函数。放置成像物体,对物体成像。根据物体组成的先验信息以及所得图像的噪声情况,计算松弛松弛因子的初始值。计算物体的相位信息。根据所得结果的对比度,微调松弛因子,直到获得理想结果。

著录项

  • 公开/公告号CN106596594B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201611055301.X

  • 申请日2016-11-25

  • 分类号

  • 代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人程毓英

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2022-08-23 10:22:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-21

    授权

    授权

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/04 申请日:20161125

    实质审查的生效

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20161125

    实质审查的生效

  • 2017-04-26

    公开

    公开

  • 2017-04-26

    公开

    公开

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