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结合负热膨胀材料的导电互连结构及相关系统、装置及方法

摘要

本发明揭示具有结合负热膨胀NTE材料的互连件的半导体装置。在一个实施例中,半导体装置包含衬底,所述衬底具有至少部分延伸穿过所述衬底的开口。具有正热膨胀系数CTE的导电材料部分充填所述开口。具有负CTE的负热膨胀NTE材料也部分充填所述开口。在一个实施例中,所述导电材料包含铜,且所述NTE材料包含钨酸锆。

著录项

  • 公开/公告号CN105612610B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美光科技公司;

    申请/专利号CN201480054281.7

  • 申请日2014-07-30

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人路勇

  • 地址 美国爱达荷州

  • 入库时间 2022-08-23 10:20:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-13

    授权

    授权

  • 2016-06-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/60 申请日:20140730

    实质审查的生效

  • 2016-06-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/60 申请日:20140730

    实质审查的生效

  • 2016-05-25

    公开

    公开

  • 2016-05-25

    公开

    公开

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