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一种用于光场三维显示量化标定的方法

摘要

本发明公开了一种用于光场三维显示量化标定的方法,包括:S1:根据现场需求利用可二次开发的三维软件生成多幅标定源图像数据;S2:对多幅源图像数据进行分离排序构成像素序列,并且对像素序列进行抽样重组得到契合分辨率的标定二级图像;S3:上载标定二级图像到二维平面矩阵显示器,使用三维平移台对柱透镜阵列或微透镜进行微调,以达到最佳匹配效果;S4:重复步骤S2至S3,以生成量化二级图像;S5:上载量化二级图像到二维平面矩阵显示器,并使用CCD对效果进行采样,进行数据处理比对,得到量化的结果对光场三维显示效果进行检测。本发明具有如下优点:大幅降低了量化误差、标定结构更加精确。

著录项

  • 公开/公告号CN107018398B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201710135853.X

  • 申请日2017-03-08

  • 分类号H04N13/30(20180101);H04N17/00(20060101);

  • 代理机构11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张润

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园

  • 入库时间 2022-08-23 10:20:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-09

    授权

    授权

  • 2017-08-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N13/00 申请日:20170308

    实质审查的生效

  • 2017-08-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 13/00 申请日:20170308

    实质审查的生效

  • 2017-08-04

    公开

    公开

  • 2017-08-04

    公开

    公开

  • 2017-08-04

    公开

    公开

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