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高通量测序突变检测结果的统计学验证方法

摘要

本发明涉及高通量测序突变检测结果的验证方法,所述方法包括,首先建立感兴趣突变的阴性背景突变频率库,基于该阴性背景突变频率库,通过Z检验来验证高通量测序突变检测结果中单核苷酸取代类型的突变检测结果,通过卡方检验来验证高通量测序突变检测结果中连续多核苷酸缺失类型的突变检测结果。本发明方法可以实现对高通量测序突变检测结果的零成本验证,并且具有较高的正确性和灵敏度。

著录项

  • 公开/公告号CN105574365B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京圣谷同创科技发展有限公司;

    申请/专利号CN201610046810.X

  • 发明设计人 刘志源;张静波;陈威;

    申请日2016-01-22

  • 分类号G06F19/24(20110101);

  • 代理机构11489 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人柴智敏

  • 地址 100089 北京市海淀区东北旺西路8号9号楼二区104、105号

  • 入库时间 2022-08-23 10:19:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-26

    授权

    授权

  • 2016-06-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F19/24 申请日:20160122

    实质审查的生效

  • 2016-06-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 19/24 申请日:20160122

    实质审查的生效

  • 2016-05-11

    公开

    公开

  • 2016-05-11

    公开

    公开

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