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碳化硅半导体装置,碳化硅半导体装置的制造方法以及碳化硅半导体装置的设计方法

摘要

碳化硅半导体装置包括:第一导电型碳化硅层32,第二导电型碳化硅层36,栅极沟槽20,被设置在栅极沟槽20内的栅极电极79,以及直到比栅极沟槽20更深的深度处被形成的保护沟槽10。在水平方向上,包含栅极沟槽20,以及将栅极沟槽20的仅一部分在水平方向上包围的保护沟槽10这两者的区域成为单元(cell)区域,在水平方向上,包含保护沟槽10,且设置有栅极衬垫89或者与该栅极衬垫89相连接的布置电极的区域成为栅极区域。在单元区域中的栅极沟槽20的上方以及栅极区域中设有第二导电构件81,该第二导电构件81被设置为经过单元区域中不设有保护沟槽10的地方的上方,从栅极沟槽20的上方起延展到栅极区域。

著录项

  • 公开/公告号CN105637643B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 新电元工业株式会社;

    申请/专利号CN201480003420.3

  • 发明设计人 井上徹人;菅井昭彦;中村俊一;

    申请日2014-09-24

  • 分类号

  • 代理机构上海德昭知识产权代理有限公司;

  • 代理人郁旦蓉

  • 地址 日本国东京都千代田区大手町二丁目2番1号

  • 入库时间 2022-08-23 10:18:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-09

    授权

    授权

  • 2016-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20140924

    实质审查的生效

  • 2016-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/78 申请日:20140924

    实质审查的生效

  • 2016-06-01

    公开

    公开

  • 2016-06-01

    公开

    公开

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